{{ name }}
Nr art. {{ combinedCodeWithHighlight }}
Nr własny produktu:
EAN / GTIN:
Numer producenta:
Warstwomierze Pocket Leptoskop 2021
Nr art.: 496800 2021
Nr własny produktu:
- Protokół z badań: Protokół kontroli producenta
- Opakowanie: sztywny pojemnik
Szczegóły produktu
Dane techniczne
| zakres pomiaru Fe | 0 µm - 3 000 µm | |
| dokładność pomiaru warstw <100 µm | 1 % / ±1,5 µm | |
| Dokładność pomiaru warstw od 100 do 1200 µm | 1 − 3 % / ±1 µm | |
| Dokładność pomiaru warstw > 1200 µm | 3 − 5 % / ±1 µm | |
| zasada pomiaru Fe | magnet.-indukc. | |
| zasilanie energią | Zasilanie z baterii | |
| Liczba dołączonych baterii | 1 | |
| Nr artykułu z bateriami / akumulatorami | 081561 LR3 | |
| trwałość baterii ok. | 100 h | |
| Technika pomiarowa | cyfrowy | |
| długość | 95 mm | |
| szerokość | 47 mm | |
| wysokość | 17 mm | |
| Protokół z badań | Protokół kontroli producenta | |
| Opakowanie | sztywny pojemnik | |
| Rodzaj produktu | Warstwomierz |
Numery identyfikacyjne i klasyfikacje
| Numer artykułu | 496800 2021 | |
| EAN / GTIN | 2050001053596 |
Opis
Wykonanie:
Solidne poręczne przyrządy do precyzyjnego, nieszkodliwego pomiaru grubości powłoki na stali oraz metalach nieżelaznych;
- sonda pomiarowa zintegrowana w przyrządzie, do natychmiastowego użytku bez kalibracji;
- możliwość kalibracji jedno- i dwupunktowej z tworzeniem wartości średniej;
- niezależne od sieci zasilanie z baterii, automatyczne wyłączanie;
- prowadzenie użytkownika za pomocą wielojęzycznych wskazówek tekstowych;
- wyświetlacz grafiki z podświetlanym tłem;
- duże, czytelne cyfry;
- wyjście danych do drukarki termicznej.
Typ Fe do pomiaru warstw niemagnetycznych, np. Cr, Cd, Cu, Zn, farb, lakierów, tworzyw sztucznych itp. na magnetyzowalnym żelazie lub stali.
W dostawie:
Walizka transportowa, wzorzec kontrolny (rozm. 2021: jednoczęściowy; wielk. 2026: dwuczęściowy), zestaw folii kalibracyjnych (dwuczęściowy), 1 bateria nr 081561, wielk. LR3, instrukcja obsługi i protokół kalibracji.
Wskazówka:
Na zamówienie wersja z pamięcią wyników pomiarów i funkcjami statystycznymi.